

XDAL® 237 是一款兼顧高精度與自動(dòng)化的全能型 X 射線測(cè)厚儀,特別適合對(duì)超薄涂層和低含量材料有嚴(yán)格測(cè)量要求的行業(yè),如電子半導(dǎo)體、貴金屬加工和制造業(yè)。其模塊化設(shè)計(jì)和靈活配置選項(xiàng)使其能夠適應(yīng)各種復(fù)雜測(cè)量任務(wù),是質(zhì)量控制和研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。
查看詳細(xì)介紹XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上,F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。
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